常温下光谱仪扫描式的OLED器件寿命测试

系统概述硅光电寿命测试机台提供了一种经济型的OLED器件寿命测试方式，但受限于硅光电对于可见光光谱的响应曲线与CIE的人眼视觉函数不能完全匹配，当器件在寿命衰减过程中光谱形状发生变化，或光谱波峰发生偏移时，其测得的相对亮度值就不在准确。为了...

光谱仪式OLED微显模组+器件寿命测量系统

光谱仪式OLED微显模组+器件寿命测量系统系统概述测量系统可兼容测量多片OLED微显模组和器件的寿命衰减测试。软件通过CCD自动拍照定位， 通过分光辐射亮度计读取每一工位的亮度，色度等数据。测试过程中软件实时备份测试数据，且支持随时导出测试...

微显器件和模组的光学测试系统

系统概述FS-1500VTS-H是弗士达公司开发的，用于微型显示器IVL和模组光学项目测量的自动化测试机台。 与其它OLED屏的光学测试机台不同之处在于，为满足0.2英寸-2英寸微显的测试，光谱仪的测量光斑<0.5mm，测试的XY方向...

离线式晶圆微显的光学测试系统

系统概述微型显示器未从晶圆上切割之前，在晶圆上直接对每个微型显示器进行探针压接点亮，测试其亮度、色度、光谱和像素缺陷。