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OLED器件寿命测量

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常温环境下硅光电式的OLED器件寿命测试FS-MP系列

系统概述本系统有多组独立的测量通道。每组测量通道有独立的电压输出、电流输出、电压测量、电流测量、相对亮度测量。每组测量通道可以独立设置测量参数,包括三段测量时长、测量时间间隔、停止测量判定条件等。每组通道均可以独立开始测量和停止测量。数据报···

环境温湿度控制下的OLED器件寿命测试

系统概述根据用户不同温湿度环境测试需求,可增加高温箱、高低温箱、恒温恒湿箱等,对器件的寿命测试环境进行控制。其温度控制范围、湿度控制范围和多层腔式均可根据客户的需求订制。系统特点避免高温对硅光电测试影响的设计方案硅光电二极管工作温度范围-2···

光谱仪扫描式的OLED器件寿命测试

系统概述硅光电寿命测试机台提供了一种经济型的OLED器件寿命测试方式,但受限于硅光电对于可见光光谱的响应曲线与CIE的人眼视觉函数不能完全匹配,当器件在寿命衰减过程中光谱形状发生变化,或光谱波峰发生偏移时,其测得的相对亮度值就不在准确。为了···

高温环境下硅光电式的OLED器件寿命测试FS-MP-HT

系统概述夹具底部带有加热板,利用高温加速OLED器件的老化,进行指定高温条件下的器件寿命测试。加热工位参数温度范围: 室温 - 100 ℃ (室温 -120℃可选)温度精度: ±1℃,温度波动±0.2℃软件功能(1) 测量模式:恒压、恒流、···

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