光谱仪式OLED微显模组+器件寿命测量系统

系统概述

测量系统可兼容测量多片OLED微显模组和器件的寿命衰减测试。软件通过CCD自动拍照定位， 通过分光辐射亮度计读取每一工位的亮度，色度等数据。测试过程中软件实时备份测试数据，且支持随时导出测试报表。

※ 模组产品通过信号机进行点亮测试，测试过程中可以设置对应的老画画面，测试点位和测试画面可以自由设定；

※ 半成品通过弗士达自主研发的多通道电源供电模块进行供电点亮，测试时读取每一工位的电压电流并记录。

1、全封闭暗室(三轴运动控制系统)

2、分光辐射亮度计

3、视觉定位系统

4、微显模组常温治具

  -器件常温治具

  -器件高温治具(独立温控，室温~100℃，精度：±1℃)

5、红外温度测量系统(实时监测产品温度，精度≤±5℃)

6、模组通道信号板、微显通讯接口

7、数字原表(量程：1mV±0.05%全程，1pA±0.05%)

8、UPS不间断电源(断电时数据保存； UPS工作时间>15min)

9、OLED寿命测试软件

10、工业计算机

分光辐射亮度计：用于光学参数测试，包括亮度，色度、色温、发光光谱等。

对位CCD：选用500万分辨率工业CCD， 在测试前拍照自动识别发光面位置及中心点， 仪器直接移动到对应位置测试。

红外测温仪：通过红外测量模组及晶圆表面的温度，每次测试完亮度后会读取相同位置的温度。

点屏测试机：
①6通道0-10V，0-300mA输出；2通道-10~0V，0-100mA输出

②2组12V电源输入

③10通道电压测量，精度1mV±0.05%；10通道电流测量，精度1pA±0.05%

④2个微显通讯接口

⑤1台测试机点2片微显。

样品点灯方式：每个样品有14个pad， 每个pad均为直流供电。

点灯模式：恒流或恒压或脉冲电流电压测试。脉冲电流或电压占空比调节范围1-99%。

模组产品测试

1、可分组测试：不同组可以设置不同的测试项目和测试参数，每个组都可以独立开始和停止；

2、寿命测试时间区间和间隔设置：可以设置三段时间区间和测试间隔；

3、寿命测试结束条件判定：亮度衰减至初始值的百分之多少时停止测量，或按用户设定的总时间进行测量

4、OLED放置位置自动识别：软件上选择测试的工位， 软年控制工业视觉对位CCD自动扫描测试工位的(OLED发光区尺寸和中心点位置；

5、寿命预估功能：软件自带寿命预估公式，根据实时测得的数据自动计算预估寿命时间；

6、测量数据的实时保存和恢复：测试过程中软件实时保存，电脑异常关机或软件异常退出，重启后仍可恢复加载之前的数据，继续测量；

7、软件可设置一组老化画面， 在等待测试的时间段， OLED循环显示老化画面；

8、支持条码扫描，及将数据上传至服务器(需客户提供上传协议)。

半成品测试

1、每个器件产品可分别设置电源的输出方式，亮度采样时间间隔，结束测量条件等。每个通道均可独立开始和停止测量。

2、在测试开始， 结束和测试过程中， 可以设置一个或者多个工位进行IVL测试。IVL测试的配置和测试次数[均可以由软件设定。

3、测量的数据包括：已测量时间、当前亮度比值、当前电压电流值及预估寿命时间等。每个OLED的数据自动测量记录并绘制亮度衰减曲线，

即使出现测量异常状况，重启电脑或软件时，仍可自动载入异常发生前的数据自动继续测量。