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OLED器件光谱仪扫描式寿命测量

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OLED器件光谱仪扫描式寿命测量

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光谱仪扫描式的OLED器件寿命测试

系统概述硅光电寿命测试机台提供了一种经济型的OLED器件寿命测试方式，但受限于硅光电对于可见光光谱的响应曲线与CIE的人眼视觉函数不能完全匹配，当器件在寿命衰减过程中光谱形状发生变化，或光谱波峰发生偏移时，其测得的相对亮度值就不在准确。为了···

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