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OLED器件IVL、寿命、EQE 混合测试

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OLED器件IVL、寿命、EQE 混合测试

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OLED器件光谱仪扫锚式 IVL、寿命混合测试

系统概述本系统是针对器件寿命测量过程中穿插IV/L测量而开发的；用户可在寿命测量前、测量中(设定间隔时间)、测量结束后，3个阶段加入器件的IV/L测量。高低温环境下光谱仪扫描式OLED器件寿命测试采用单独测试通道， 使用光谱仪进行OLED ...

OLED器件IVL+寿命+外量子效率 三合一光学测试

系统概述本为满足科研类测试的需求，弗士达提供集成IVL测试和视角测试、寿命测试、光通量和外量子效率测试功能的多合一机台。 增加了高精度的多通道电源为多工位的寿命测试提供定电流或定电压输出，器件的亮度则由光谱仪逐一扫描各工位得到。 为准确测量...

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