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OLED模组和Panel IVL及寿命测量

OLED模组和Panel IVL及寿命测量

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硅光电式OLED模组寿命和Panel 寿命测试系统

测量功能:使用硅光电传感器测试模组或Panel的相对亮度的衰减比例。可搭配高低温箱或恒温恒湿箱模拟环境温湿度,测试速度快,占地空间小。

  • 产品概述
  • 技术参数
  • 软件介绍
测量功能:使用硅光电传感器测试模组或Panel的相对亮度的衰减比例。可搭配高低温箱或恒温恒湿箱模拟环境温湿度,测试速度快,占地空间小。

主机部分由测试机柜和恒温箱(选配)组成
1. 恒温箱可选配多个腔体,每个腔体可以进行独立的温度和湿度控制。 温湿度控制参数可以通过软件进行设定,并在每次寿命测试时自 动记录至报表中
2. 每个恒温箱分4层放置,每层可放置一组治具,每组治具同时测试5片OLED MDL或Panel。
3. 测试机柜内部,放置测试电脑主机、多路复用数字万用表Keithley3706A,硅光电测试电路板、信号机、机柜控制电路、UPS等。
4. 硅光电固定在治具上,对准每片OLED 模组或Panel的中心位置,为适应不同尺寸的panel测试,硅光电位置在XY方向可手动调节。

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测量项目
1. W/R/G/B/用户指定画面下相对亮度随时间衰减比例,并绘制曲线
2. 电压或电流随时间变化的数据,并绘制曲线
3.预估寿命计算

软件界面
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软件特点
1. 可分组测试:不同组可以设置不同的测试项目和测试参数,每个 组都可以独立开始和停止。
2. 寿命测试时间区间和间隔设置:可以设置三段时间区间和测试间 隔。
3. 寿命测试结束条件判定:亮度衰减至初始值的百分之多少时停止 测量,或按用户设定的总时间进行测量。
4. 寿命预估功能:软件自带寿命预估公式,根据实时测得的数据自 动计算预估寿命时间。
5. 测量数据的实时保存和恢复:测试过程中软件实时保存,即使电 脑异常关机或软件异常退出,重启后仍可以恢复加载之前的数据, 继续测量。
6. 软件可设置一组热机画面,在等待测试的时间段,OLED循环显示 热机画面
7. 支持条码扫描,及将数据上传至服务器(需客户提供上传协议)
 
主机部分由测试机柜和恒温箱(选配)组成
1. 恒温箱可选配多个腔体,每个腔体可以进行独立的温度和湿度控制。 温湿度控制参数可以通过软件进行设定,并在每次寿命测试时自 动记录至报表中
2. 每个恒温箱分4层放置,每层可放置一组治具,每组治具同时测试5片OLED MDL或Panel。
3. 测试机柜内部,放置测试电脑主机、多路复用数字万用表Keithley3706A,硅光电测试电路板、信号机、机柜控制电路、UPS等。
4. 硅光电固定在治具上,对准每片OLED 模组或Panel的中心位置,为适应不同尺寸的panel测试,硅光电位置在XY方向可手动调节。

测量项目
1. W/R/G/B/用户指定画面下相对亮度随时间衰减比例,并绘制曲线
2. 电压或电流随时间变化的数据,并绘制曲线
3.预估寿命计算

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