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OLED模组和Panel IVL及寿命测量

OLED模组和Panel IVL及寿命测量

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光谱仪扫描式的OLED模组寿命测试系统

此机台主要应用于多片OLED手机模组屏的寿命衰减测试。采用光谱仪扫描测试的方式,可以得到亮度、色度、色温和光谱数据等。同时XY轴扫描式的测量方式可支持模组表面多点不同位置的寿命衰减和均匀性测试.可选配均匀的环境温度控制,控温范围RT -100℃

光谱仪扫描式的OLED Panel 寿命测试系统

应用于多片OLED手机或平板Panel 屏的寿命衰减测试。采用光谱仪扫描测试的方式,可以得到亮度、色度、色温和光谱数据等。同时XY轴扫描式的测量方式可支持Panel表面多点不同位置的寿命衰减和均匀性测试.可选配均匀的环境温度控制,控温范围RT -100℃

硅光电式OLED模组寿命和Panel 寿命测试系统

测量功能:使用硅光电传感器测试模组或Panel的相对亮度的衰减比例。可搭配高低温箱或恒温恒湿箱模拟环境温湿度,测试速度快,占地空间小。

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