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OLED器件光谱仪扫描式寿命测量

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高温下光谱仪扫描式的OLED器件寿命、IVL测试

  • 产品概述
  • 技术参数
  • 软件介绍


系统概述


本系统是针对器件寿命测量过程中穿插IV/L测量而开发的;用户可在寿命测量前、测量中(设定间隔时间)、测量结束后,3个阶段加入器件的IV/L测量。

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 系统组成

 

1、全封闭暗室机台(含三轴运动控制系统)

2、分光辐射亮度计

3、视觉定位系统

4、工业计算机

5、OLED器件Lifetime测量软件




系统特点


驱动电源描述:

1、总共100个工位,每个工位配备两种电源满足两款不同产品的测试。

2、8路独立电源供应器FS-P8CH:电压输出0-20V,电流输出0~18mA。

3、8路独立电源供应器FS-P8CH-BIG:电压输出0-20V, 电流输出0~200mA。

4、两种电源在100个工位中可以不指定工位号进行混合测试。

5、两种电源提供独立的接口,便于下游电流板的设计。



OLED器件寿命测试软件:

采用前后端分体式,前端负责数据查看和测量条件建立,后端控制程序运行和日志记录。测量过程中,只要操作前端界面,可以达到完全不卡顿,软件能快速响应。

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详情请致电联系。

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