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OLED器件硅光电式寿命测量

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环境温湿度控制下的OLED器件寿命测试

  • 产品概述
  • 技术参数
  • 软件介绍


系统概述


根据用户不同温湿度环境测试需求,可增加高温箱、高低温箱、恒温恒湿箱等,对器件的寿命测试环境进行控制。
其温度控制范围、湿度控制范围和多层腔式均可根据客户的需求订制。


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 系统组成


弗士达公司的硅光电寿命测试机台系统采用模块化设计,可以根据用户需求灵活配置测试系统。会在亮度测量开始前,先测量每个硅光电二极管的暗电流噪声并保存。选配恒温恒湿箱可实现对测|试环境温度和湿度的控制,控制器件老化的环境。每次硅光电电流的测量结果都会自动减去暗电流噪声,以硅光电电流净值来计算亮度。


系统配置

1中央控制柜,内含

-电气柜

-恒压恒流源输出/测量模块

-Keithley 3706A(选配)

-不间断电源UPS

-OLED TEG治具(定制)

2环境试验箱(选配)

3工业计算机

4OLED器件寿命测量软件


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标准恒温恒湿箱参数
温度范围: -40~100 ℃ (标准型,其它温度范围可订制)
温度均匀度:±2.0℃
温度波动度: ± 0.5℃
温度精度:1 ℃
升温速度: 1.0~3.0℃/min
降温速率: 0.7~1.2℃/min
湿度范围:30%~98%RH (标准型,其它湿度范围可订制)
湿度波动度:±1.5%R.H
湿度偏差:±2.5%R.H



详情请致电联系。

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