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OLED 器件、微显模组寿命测量

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常温环境下硅光电式的OLED器件寿命测试FS-MP系列

系统概述本系统有多组独立的测量通道。每组测量通道有独立的电压输出、电流输出、电压测量、电流测量、相对亮度测量。每组测量通道可以独立设置测量参数,包括三段测量时长、测量时间间隔、停止测量判定条件等。每组通道均可以独立开始测量和停止测量。数据报...

高温环境下硅光电式的OLED器件寿命测试FS-MP-HT

系统概述高温测试系统分为chamber温控或底板加热温控。chamber加热温度范围:室温-40℃~100℃;底板加热温度:室温~100℃。     软件功能(1)测量模式:恒压、恒流、方波...

环境温湿度控制下的OLED器件寿命测试

系统概述根据用户不同温湿度环境测试需求,可增加高温箱、高低温箱、恒温恒湿箱等,对器件的寿命测试环境进行控制。其温度控制范围、湿度控制范围和多层腔式均可根据客户的需求订制。 系统组成弗士达公司的硅光电寿命测试机台系统采用模块化设计,...

高温下光谱仪扫描式的OLED器件寿命、IVL测试

系统概述本系统是针对器件寿命测量过程中穿插IV/L测量而开发的;用户可在寿命测量前、测量中(设定间隔时间)、测量结束后,3个阶段加入器件的IV/L测量。 系统组成 1、全封闭暗室机台(含三轴运动控制系统)2、分光辐射亮度...

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