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OLED器件光谱仪扫描式寿命测量

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OLED器件光谱仪扫描式寿命测量

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高温下光谱仪扫描式的OLED器件寿命、IVL测试

系统概述本系统是针对器件寿命测量过程中穿插IV/L测量而开发的；用户可在寿命测量前、测量中(设定间隔时间)、测量结束后，3个阶段加入器件的IV/L测量。 系统组成 1、全封闭暗室机台(含三轴运动控制系统)2、分光辐射亮度...

常温下光谱仪扫描式的OLED器件寿命测试

系统概述硅光电寿命测试机台提供了一种经济型的OLED器件寿命测试方式，但受限于硅光电对于可见光光谱的响应曲线与CIE的人眼视觉函数不能完全匹配，当器件在寿命衰减过程中光谱形状发生变化，或光谱波峰发生偏移时，其测得的相对亮度值就不在准确。为了...

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