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OLED器件硅光电式寿命测量

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高温环境下硅光电式的OLED器件寿命测试FS-MP-HT

  • 产品概述
  • 技术参数
  • 软件介绍


系统概述


高温测试系统分为chamber温控或底板加热温控。
chamber加热温度范围:室温-40℃~100℃;底板加热温度:室温~100℃。



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 软件功能


(1)测量模式:恒压、恒流、方波电压、方波电流

(2)软件所有通道可独立配置电流电压测试条件,互不影响。

-每个发光点可以独立设置电压或电流等参数,独立开始和停止测量。支持用户在测试过程中,增加或更换其中几片产品。

-测量时间控制:有3个时间段设计,每个通道每个时间段可以分别设置测量时间和间隔等参数。

-测量前预处理功能:有4段预处理,每段预处理都可以设置温度、电流、电压和时间等参数,正常测量前先以预处理条件进行老化,

然后再进入正常寿命测试程序。

(3)软件所有通道可实时检查详细测量数据及图表。

-数据包含样品信息、测量时间、已测时长、光感电流、亮度剩余比例、电压、电流、预估寿命温度、湿度、亮度等。

-多通道曲线图:支持选择多通道电压、电流、亮度衰减、寿命时长等数据,在一张图表里显示曲线,便于比较筛选。

-数据实时存储,异常恢复后可找回数据并继续测试(中断的时间不累积,能自动减除)。

-数据实时处理和记录, 自动生成数据图表和测试报告, Datalog及Eventlog实时记录。




 软件界面


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详情请致电联系。

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