OLED 模组寿命测量
OLED 模组寿命测量
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此机台主要应用于多片OLED手机或平板模组屏的寿命衰减测试。
系统组成 |
1. 三轴自动测量机台
2. 分光辐射亮度计
3. 视觉定位系统
4. 红外监控(选配)
5. 温湿度传感器(选配)
6. 高温箱(选配):RT~100℃,精度:±1℃
7. MDL信号机
9. 工业计算机
10. OLED模组寿命测试软件
系统特点 |
● 采用光谱仪扫描测试的方式, 测量恒温(25℃) 下的亮度、色度(x/y、u'/v') 、色温、显色指数、均一性、电流效率、image-sticking、功耗、寿命等。同时XY轴扫描式的测量方式可支持模组表面多点不同位置的寿命衰减和均匀性测。
● 视觉定位系统由500万像素以上的CCD定位系统+高分辨率CCD图像观察系统构成, 每次测量前自动扫描所有工位的OLED的放置位置,自动识别产品中心点坐标和尺寸, 对位精度要求为0.1mm, CCD对位清晰, 更换不同尺寸的OLED产品时, 无需人工重新设置每片产品的坐标位置。
● 温度监控:选配温度传感器,机台测量光学项目时上传相应的温度数据。
● 测试项目:亮度、亮度衰减比、色度值(x/y, u'/v') 、色温值(Tc) 、发光光谱、衰减时间、已测时间、电压值、电流值、测试温度、RGB功能、EL VDD、EL VSS, 并绘制曲线, 根据测试数据, 预估产品的使用寿命5、数据图表:Voltage-Time、Current-Time、Relative Lv-Time(%) 、Real Lv-Time、Temp-Time、Efficiency-Time
灵活的工位配置
1. 对于柔性屏和直屏等背部平滑的产品,可采用多孔陶瓷真空吸附台进行固定。吸附台配有真空吸力数显表,保证将柔性屏吸附平整的同时不会造成像素的异常。
2. 对于屏体有温度控制需求,可以选择贴片式加热平台。
3. 对于屏体所处环境温度有要求,可以选择高温箱。有限的机台空间内对屏体提供均匀的环境温度控制。每个高温箱可独立控温。
4.为减小机台尺寸,机台可设计成前后开门放置产品。
软件功能 |
1、可分组测试:不同组可以设置不同的测试项目和测试参数,每组都可以独立开始和停止。
2、寿命测试时间区间和间隔设置:可以设置三段时间区间和测试间隔。
3、寿命测试结束条件判定:亮度衰减至初始值的百分之多少时停止测量,或按用户设定的总时间进行测量。
4、OLED位置自动识别:软件选择测试的工位, 软件控制工业视觉对位CCD自动扫描测试工位的OLED发光区尺寸和中心点位置。
5、寿命预估功能:软件自带寿命预估公式,根据实时测得的数据自动计算预估寿命时间。
6、电压/电流随时间变化的数据,并绘制曲线(要求PG支持电流电压的检测和软件读取)。
7、测量数据的实时保存和恢复:测试过程中软件实时保存,即使电脑异常关机或软件异常退出,重启后仍可以恢复加载之前的数据,继续测量。
8、软件可设置一组热机画面, 在等待测试的时间段, OLED循环显示热机画面。
9、支持条码扫描,及将数据上传至服务器(需客户提供上传协议)。
10、强大的软件测试功能,用户可以编辑任意点位置、任意画面、任意测试项目的组合,可满足不同画面的寿命测试、均匀性测试、老化测试等功能。
11、程序支持前后台独立程序+数据库存储系统。
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