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OLED模组和Panel 的IVL及寿命测量

OLED模组和Panel 的IVL及寿命测量

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光谱仪扫描式的OLED Panel 寿命测试系统

  • 产品概述
  • 技术参数
  • 软件介绍

应用于多片OLED手机或平板Panel 屏的寿命衰减测试。采用光谱仪扫描测试的方式,可以得到亮度、色度、色温和光谱数据等。同时XY轴扫描式的测量方式可支持Panel表面多点不同位置的寿命衰减和均匀性测试.可选配均匀的环境温度控制,控温范围RT -100℃。



系统组成
1、三轴全自动测量机台FS-9500GA3-OLED
2、分光辐射亮度计
3、视觉定位相机
4、多片Panel 信号机
5 、Panel治具
6 、OLED 模组寿命测试软件


系统特点
1. 采用光谱仪扫描测试的方式,可以得到亮度、色度、色温和光谱数据等。同时XY轴扫描式的测量方式可支持Panel 表面多点 不同位置的寿命衰减和均匀性测试。
2. 工业视觉对位相机在每次测量前自动扫描所有工位的OLED panel的放置位置,自动识别OLED的中心点坐标和尺寸,更换不 同尺寸的OLED产品时,无需人工去重新设置每片OLED的坐标位置。
3. 弗士达首次将多孔陶瓷吸附应用于柔性OLED屏体的固定,并做了大量的设计改进,保证将柔性屏吸附平整的同时不会造成 像素的异常。
4. 对于环境温度的控制要求,弗士达研发了紧凑性的高温箱,并已获得发明专利,可在有限的机台空间内对屏体提供均匀的环 境温度控制。温控范围:室温—100℃
5.
 Panel自动对位机。弗士达开发的Panel自动对位机,可实现每片panel在机器视觉和机械手臂的控制下自动完成对位。


与OLED模组机台不同的是,额外增加了Panel治具,每套 panel 治具可压接5片Panel进行光学和寿命测试。



测量项目
1. W/R/G/B/自定义画面下亮度和色度xy随时间衰减比例,并绘制曲线
2. 电压/电流随时间变化的数据,并绘制曲线


软件界面

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