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快速视角分析仪

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Cube X

  • 产品概述
  • 技术参数
  • 软件介绍


产品介绍


该新产品基于 ELDIM 获得专利的全新技术。该设备提供轴上光谱信息,轴上波长分辨率为 2nm。它允许在 +/-60° 的视锥中以 1° 的角度地图分辨率在 0.5 秒内测量全彩色地图。可重复的角度测量,允许恢复测量角度空间任何坐标的色度数据。该设备的测量节拍时间小于2秒,所有数据都可以通过以太网电缆或WIFI传输。该设备在可见范围内工作。非常适合多次测量,非常轻便且易于操作。由于其速度、准确性和多用途,非常适合研发团队和大规模生产线。

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带光谱传感器响应的白色显示屏

特点

• 多光谱角度测量
• 0.5秒内测量的全彩图
• ±60°视角
• 用于大规模生产
• 紧凑型
• 易于集成
• 极具竞争力的价格


技术多光谱角度映射
多光谱传感器位置136
波长390-730nm
视角入射角
方位角
±60°
0-360°
工作距离12.5 毫米
光斑尺寸12 毫米
高分辨率光谱仪类型
轴上光谱仪分辨率 轴上光谱
仪光学分辨率
轴上
2nm
10nm
表演角图分辨率
角精度
亮度范围

0.1°
0.1-100000 镉/平方米
准确性接近传感器/设置精度
色度 (x,y) 精度
色度 (x,y) 重复性
亮度精度
亮度重复性
3 个 TOF 传感器 / 0.5° 倾斜和倾斜精度
0.002 用于 A 类光源
0.0001
2%
0.02%
节拍时间测量(全图)<2s 典型值
使用条件以太网
Wifi 和 USB
温度范围
湿度范围
重量
外部尺寸 (L x W x H)
1 Gbit/s

10°C 至 +40°C
0 至 85% 非冷凝
6.35 kg
165mm x 165 mm x 150 mm
规格如有更改,恕不另行通知


详情请致电联系。

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