系统概述

本系统是针对器件寿命测量过程中穿插IV/L测量而开发的；用户可在寿命测量前、测量中(设定间隔时间)、测量结束后，3个阶段加入器件的IV/L测量。
高低温环境下光谱仪扫描式OLED器件寿命测试采用单独测试通道， 使用光谱仪进行OLED TEG光学测试， 接入独立测试系统， 可独立控制每个JIG的温度、电流/电压。
可以兼顾两种不同尺寸TEG测试， 量测常温&高低温(-40℃~100℃) 范围内的亮度、色度(x/y) 、色温、寿命、IVL， 高低温冲击测试等。

1、全封闭暗室机台(含三轴运动控制系统)

2、分光辐射亮度计

3、视觉定位系统

4、温度控制系统(选配)：使用水浴循环机+半导体加热制冷，温度范围-40℃~100℃。

5、治具：常温治具、高低温治具(-40℃~100℃)

6、Lifetime测试恒流/恒压源

7、IL测试源表、UPS

8、工业计算机

9、OLED器件IVL与Lifetime混测软件

寿命测试软件与IVL测量软件集成为1套软件， 可在寿命测量开始前、过程中、结束后测量IV/L。

1、可设置是否启用CCD定位拍照， 通道自动切换；

2、供电输出支持恒流恒压输出；

3、寿命测量可设置启用温度控制，寿命测量时长可分三段时长，时间可任意设置；

4、寿命预处理：可设定温度预处理，电压/电流预处理；

5、具备高低温冷热冲击功能；

6、IVL测量：输出模式分为电压、电流密度； IV/L输出设置、步进、测量时间间隔；

7、报表介绍：寿命报表输出包含时间、亮色度、Ⅴ、I、AV、△I、温度等信息；Ⅳ/L报表输出包含时间、亮度、Ⅴ、I、电流密度等信息。