OLED器件光谱仪扫描式IVL测量
OLED器件光谱仪扫描式IVL测量
简易单工位OLED器件IVL及视角测试系统
对于OLED科研类机构用户,仅考虑测试功能和精度,不考虑测试效率的情况下,可选择单工位的IVL及视角测试系统。与多工位机台相比,仅保留一个带视角的工位和治具,机台尺寸更紧凑。同时可取消选配工业视觉对位相机。
对于OLED科研类机构用户,仅考虑测试功能和精度,不考虑测试效率的情况下,可选择单工位的IVL及视角测试系统。与多工位机台相比,仅保留一个带视角的工位和治具,机台尺寸更紧凑。同时可取消选配工业视觉对位相机。
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I-V-L曲线测量的设定
1.可以设定起始电压、终止电压、电压步长,进行连续的测量
2.可以设定起始电流密度、终止电流密度、电流密度步长,进行连续测量
3.可以单独设定电流密度的亮度检测下限值,低于下限值时仅测电流电压,超过下限值后同时测电压电流亮度等数据
4.可以设定并保存设定的机种参数,下次测量时可以直接调用
I-V-L的测量数据
测量的结果包括:亮度L(cd/m2),电流效率(mA/cm2),发光效率,外量子效率,色坐标(x,y),色温,显色指数CRI,发光光谱
输出的测量项报表中的 图表包括: Cdens-V,Cdens-L,Cdens-LumE,Cdens-EQE,CIE1931,Spectra
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