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OLED器件光谱仪扫描式IVL测量

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高低温OLED器件IVL测试系统

  • 产品概述
  • 技术参数
  • 软件介绍


高低温OLED器件IVL测量系统


该系统可配置常温测试工位+高低温测试工位(温度范围-40℃~100℃)+视角测试工位(视角测试范围±90°)。测量不同电流时的发光光谱、亮度、色温、显色指数、色度CIE-x/y、u’, v’等; 不同角度下的光强分布; 器件输出结果的均匀性计算。

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关键词:光学检测,成像亮度色度计,光谱仪

高低温OLED器件IVL测试系统详情请致电联系。


高低温OLED器件IVL测试系统测量软件


I-V-L曲线测量的设定
1.可以设定起始电压、终止电压、电压步长,进行连续的测量
2.可以设定起始电流密度、终止电流密度、电流密度步长,进行连续测量
3.可以单独设定电流密度的亮度检测下限值,低于下限值时仅测电流电压,超过下限值后同时测电压电流亮度等数据
4.可以设定并保存设定的机种参数,下次测量时可以直接调用

I-V-L的测量数据
测量的结果包括:亮度L(cd/m2),电流效率(mA/cm2),发光效率,外量子效率,色坐标(x,y),色温,显色指数CRI,发光光谱
输出的测量项报表中的 图表包括: Cdens-V,Cdens-L,Cdens-LumE,Cdens-EQE,CIE1931,Spectra


软件界面


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