OLED器件硅光电式寿命测量 - 苏州弗士达科学仪器有限公司

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OLED器件硅光电式寿命测量

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OLED器件硅光电式寿命测量

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常温环境下硅光电式的OLED器件寿命测试FS-MP系列

FS-MP系统有多组独立的测量通道。每组测量通道有独立的电压输出、电流输出、电压测量、电流测量、相对亮度测量。每组测量通道可以独立设置测量参数，包括三段测量时长、测量时间间隔、停止测量判定条件等。每组通道均可以独立开始测量和停止测量。数据报表具备实时保存功能

高温环境下硅光电式的OLED器件寿命测试FS-MP-HT

测量功能：夹具底部带有加热板，利用高温加速OLED器件的老化，进行指定高温条件下的器件寿命测试。

环境温湿度控制下的OLED器件寿命测试

根据用户不同温湿度环境测试需求，可增加高温箱、高低温箱、恒温恒湿箱等，对器件的寿命测试环境进行控制。其温度控制范围、湿度控制范围和多层腔式均可根据客户的需求订制。

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