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离线式晶圆微显光学测试系统

离线式晶圆微显光学测试系统
微型显示器未从晶圆上切割之前，在晶圆上直接对每个微型显示器进行探针压接点亮，测试其亮度、色度、光谱和像素缺陷。

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首页 > 产品 > {{data.category?.name}} > {{ data.title }}

{{data.title}}

{{data.abstract || "暂无产品简介"}}

{{item.label}}
{{item.attr_key}}
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